徠卡顯微鏡使用 LAS X Grain Expert 軟件提供實用、準確且可再現的晶粒度和微觀結構分析解決方案。晶粒度使用自動應用的傳統方法或高級數字方法進行分析。分析方法符合各種國際及國家標準。

LAS X Grain Expert 的優勢：工作流程簡明，報告可定制

Leica Grain Expert 提供全面的材料研究和冶金學晶粒度分析技術。用戶可以確信分析過程符合不同的實驗室要求。Leica Grain Expert 涵蓋面向金相學晶粒尺寸分析的多個標準，如ASTM E112、 DIN/EN/ISO 643、GOST 5639和JIS G0551。

其采用先進的圖像處理技術，可自動增強和準確檢測晶界。操作員始終可修改和確認發現的結果。分析結果可用于驗證材料是否符合買家與制造商確定的技術規范，識別制造過程中的變動，并提供材料結構和屬性的研究數據。

Grain Expert 軟件簡單易學。LAS X Grain Expert可幫助用戶選擇最合適的高效晶界檢測算法。只需選擇與樣品最相似的示例圖像，便可應用正確的分析算法。

在晶界檢測之前，可使用附帶的圖像分析模塊進行二進制或圖像處理。這些技術常用于晶界模糊的情形，以便更好地呈現晶界并應用算法。即使腐蝕效果不佳，也不會降低分析質量。針對質量控制和研發目的，還可定制基于 Excel 的報告模板。

LAS X Grain Expert 軟件能夠用 G (晶粒度號) 表示平均晶粒度，并計算:

關于使用 Leica LAS X Grain Expert 軟件進行晶粒度分析的示例請參見右側的表格以及下面的圖表。